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正电子&材料微结构表征
更新日期:2025-04-07  

题 目:正电子&材料微结构表征

报告人:王宝义 研究员

单 位:中国科学院高能物理研究所

时 间:2025/4/10 09:30

地 点:嘉锡楼三层305报告厅

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附简介:

王宝义,中国科学院高能物理研究所研究员,博士生导师,全国正电子谱学专业委员会主任。先后主持了多项国家自然科学基金、中国科学院基础研究重点项目、中国科学院院长基金以及中国科学院创新基金项目等。在新材料微观结构和晶体缺陷表征研究以及核技术方法学研究方面研究颇深。

内容简介:正电子湮没谱学技术在研究材料微观缺陷、微观结构方面有着独特的优势,可以获取材料内部微观缺陷的种类与分布的关键信息,在金属、高分子、粉末等材料的空位形成、演化机理以及分布等研究方面独具特色,对研究材料的微观结构、优化材料的工艺和性能等方面有着指导作用。

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报告网页链接如下:王宝义研究员学术报告链接